日本理學(xué)光譜儀的檢定項(xiàng)目包括精密度、穩(wěn)定性、X射線計(jì)數(shù)率、探測(cè)器分辨率以及儀器的計(jì)數(shù)線性，定期檢定的檢測(cè)結(jié)果需要符合的要求。規(guī)定了波長色散X射線熒光光譜儀的校準(zhǔn)項(xiàng)目和技術(shù)指標(biāo)(B級(jí))，供檢定時(shí)參考。表格中N代表n次測(cè)量的平均計(jì)數(shù)值；λ代表分析元素X射線的波長(以nm為單位)。

　　日本理學(xué)光譜儀的優(yōu)點(diǎn)：

　　1、儀器結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，省略了晶體的精密運(yùn)動(dòng)裝置,也無需精確調(diào)整。還避免了晶體衍射所造成的強(qiáng)度損失。光源使用的X射線管功率低,一般在100W以下，不需要昂貴的高壓發(fā)生器和冷卻系統(tǒng)，空氣冷卻即可，節(jié)省電力。

　　2、能量色散形熒光光儀的光源、樣品、檢測(cè)器彼此靠得很近,X射線的利用率很高,不需光學(xué)聚集，在累積整個(gè)光譜時(shí)，對(duì)樣品位置變化不象波長色散型熒光光儀那樣敏感，對(duì)樣品形狀也無特殊要求。

　　3、在能量色散譜儀中，樣品發(fā)出的全部特征X射線光子同時(shí)進(jìn)入檢測(cè)器，這就奠定了使用多道分析器和熒光屏同時(shí)累積和顯示全部能譜(包括背景)的基礎(chǔ),也能清楚地表明背景和干擾線。因此,半導(dǎo)體檢測(cè)器X射線光譜儀能比晶體X射線光譜儀快而方便地完成定性分析工作。

　　4、能量色散法的一個(gè)附帶優(yōu)點(diǎn)是測(cè)量整個(gè)分析線脈沖高度分布的積分程度,而不是峰頂強(qiáng)度。因此，減小了化學(xué)狀態(tài)引起的分析線波長的漂移影響。由于同時(shí)累積還減小了儀器的漂移影響,提高凈計(jì)數(shù)的統(tǒng)計(jì)精度，可迅速而方便地用各種方法處理光譜。同時(shí)累積觀察和測(cè)量所有元素，而不是按特定譜線分析特定元素。因此，減小了偶然錯(cuò)誤判斷某元素的可能性。

　　以上就是日本理學(xué)光譜儀的優(yōu)點(diǎn)，供大家參考！