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主營(yíng)產(chǎn)品:X射線熒光光譜儀

手持式X射線熒光光譜儀的用途和分析方法是什么

點(diǎn)擊次數(shù):1041  更新時(shí)間:2023-01-06
  手持式X射線熒光光譜儀是一種使用方便,攜帶方便,保養(yǎng)維護(hù)方便的測(cè)量?jī)x器,手持式X射線熒光光譜儀能分析F(9)~U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片,液體等,分析對(duì)象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無(wú)標(biāo)半定量方法可以對(duì)各種形狀樣品定性分析,并能給出半定量結(jié)果,結(jié)果準(zhǔn)確度對(duì)某些樣品可以接近定量水平,分析時(shí)間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析,薄膜分析。測(cè)量樣品的大尺寸要求為直徑51mm,高40mm.
  手持式X射線熒光光譜儀一般有三點(diǎn)分析模式:
  1、點(diǎn)分析
  將電子探針固定在試樣感興趣的點(diǎn)上,進(jìn)行定性或定量分析。該方法用于顯微結(jié)構(gòu)的成份分析,例如對(duì)材料晶界、夾雜、析出相、沉淀物、奇異相及非化學(xué)計(jì)量材料的組成等分析。
  2、線分析
  電子束沿一條分析線進(jìn)行掃描(或試樣掃描)時(shí),能獲得元素含量變化的線分布曲線。如果和試樣形貌像(二次電子像或背散射電子像)對(duì)照分析,能直觀地獲得元素在不同相或區(qū)域內(nèi)的分布。沿感興趣的線逐點(diǎn)測(cè)量成分,也可以劃出該線的成分變化曲線。
  3、面分析
  將電子束在試樣表面掃描時(shí),元素在試樣表面的分布能在CRT上以亮度分布顯示出來(lái)(定性分析),亮度越亮,說(shuō)明元素含量越高。研究材料中雜質(zhì)、相的分布和元素偏析常用此方法。面分布常常與形貌像對(duì)照分析。
  手持式X射線熒光光譜儀的使用注意事項(xiàng):
  1、儀器會(huì)產(chǎn)生電離輻射,在測(cè)試時(shí)確保不要將儀器對(duì)著人;不要將儀器對(duì)著空氣做測(cè)試;不要用手拿著樣品做測(cè)試;
  2、在運(yùn)作狀態(tài)時(shí),勿打開(kāi)儀器的防護(hù)蓋或勿將測(cè)試儀器對(duì)準(zhǔn)人體;
  3、每次開(kāi)啟儀器和每連續(xù)工作4小時(shí),須對(duì)儀器進(jìn)行校驗(yàn);
  4、嚴(yán)禁非專門的人員操作該儀器,操作時(shí)必須按照操作步驟進(jìn)行,任何錯(cuò)誤的操作,均會(huì)導(dǎo)致儀器的測(cè)試結(jié)果及使用壽命。
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